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整体式升温测试室是针对高性能电子产品模拟高温恶劣环境的试验设备，是提高产品稳定性、可靠性的重要实验设备，测试室温度范围+40℃~+100℃，适合所有电子产品的老化测试。对于测试室的选型，大家可以参考下面为大家介绍的内容。
整体式升温测试室选型参数：
整体式升温测试室选型要求：
1.加热试验
将温度传感器置于高温老化试验箱工作空间内任意一点，全功率加热，记录工作室温度首次由室温升至最高工作温度的时间，结果不应超过120分钟。
2.表面温度测试
高温老化试验箱工作温度首次达到最高工作温度并稳定2小时后，用温度计测试箱体表面温度，对最高工作温度不超过200℃的试验箱，表面温度不应大于室温加35℃；最高工作温度超过200℃，表面温度应按公式确定。
3.绝缘电阻测试
试验按GB998中6.2规定的方法进行，其结果应与电加热器接线端子（含引出线）对控制系统开路时进行1500V、交流50H、1min的绝缘强度试验相一致，绝缘不应被击穿。
4. 介电强度测试
试验按GB998中6.3条的规定进行，当试验结果符合电加热器接线端子（含引出线）与控制系统断路要求时，外壳应能承受1500V、交流50H，历时1min的介电强度试验，绝缘不应被击穿。
5.噪音测试
按照ZBN61012规定的方法进行测试，结果整机噪声不高，为75dB(A)。
如有整体式升温测试室选型疑问，可以访问“环仪仪器”官网，咨询相关技术人员。
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